电学性能、磁学性能等测试据不同样品另算 

备注：加热附件额外加收100元/小时，使用新探针按市场价格据实结算或探针自带

（1）工作模式：接触模式、轻敲模式、力曲线模式、磁力显微镜等；

（2）扫描范围：X,Y方向轴上最大移动范围90 μm，精度0.5 nm；Z方向最大移动范围15 μm，精度0.25 nm；

（3）扫描器闭环噪音：X，Y轴<60 pm，Z轴<50 pm；

（4）分辨率：形貌成像高达原子级分辨；

（5）导电模块测试电流范围：1 pA-20 nA；

（6）力谱成像模块测量范围：10 kpa-100 Gpa；

（7）加热台模块：温度范围为室温至250℃，精度0.2℃。

（1）样品尺寸直径小于15 mm，高度小于7 mm，粗糙度小于5 μm；

（2）拷贝数据，严禁使用U盘。

待测样品一般制备在样品载体上（样品载体可为云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片等)，建议提前一天制样以保证样品干净、新鲜。

云母片的使用：第一次使用时，先将云母片固定在2.5 cm×2.5 cm的玻璃片上。每次使用时需用双面胶或透明胶带将最上面一层的云母片撕掉，方能在新鲜的云母片上制样。

硅片的使用：硅片在使用前需用酸、碱、超纯水依次反复超声清洗以保证洁净。

（1）粉末样品

若是纳米颗粒样品，先用一定的分散剂超声分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后测试。首先将粉末样品加入在溶剂中（一般为超纯水或乙醇），浓度控制在40 mg/mL以下，超声分散，分散好的溶液滴到云母片或硅片上，用N2吹扫。将制好的样品放在表面皿中，半掩盖子，通风橱自然风干，防止进灰。

如果样品表面有无机盐，先用水等清除盐分后来测试，因为盐分结晶影响形貌的扫描。

由于AFM测试浓度不好掌握，第一次测试时可按梯度多制备几个样品。

（2）薄膜样品

可按照所需实验工艺制备薄膜样品。薄膜厚度测试，预先把薄膜和基底作出一个边界清楚的台阶。

（3）本仪器样品在大气环境中检测导体、半导体、绝缘体以及生物样品的形貌表征，硅片及玻璃片尺寸不得小于1 cm×1 cm。